蓄冷沖擊試驗箱特別適用于半導體電子器件做溫度破壞測試，主要測試材料結構在瞬間下經溫及溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。本試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內部結構不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產品放在提籃里，是隨提籃起移動的。
技術參數(shù)：
規(guī)格型號：AP-CJ-50/80/100/150/252/480
容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升
內箱尺寸（寬*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）
外形尺寸（寬*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）
試驗溫度范圍：
A表示：-40℃～+150℃
B表示：-55℃～+150℃
C表示：-65℃～+150℃
低溫槽溫度范圍：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃
高溫槽溫度范圍：+60℃～+200℃，升溫速率平均5℃/MIN
溫度波動度：±2.0℃
溫度轉換時間：10S
溫度穩(wěn)定時間：5MIN，常溫～低溫度5MIN，常溫～高溫度5MIN
內箱材質：SUS304不銹鋼
外箱材質：SUS201紗面不銹鋼或電解鋼板噴塑處理
?蓄冷沖擊試驗箱標準:
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；
2、2GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗；
5、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
6、GJB360.7-87溫度沖擊試驗；
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
9、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
10、GB/T 2423.22-2002溫度變化
11、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗般規(guī)則
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估
特點
三箱設備區(qū)分為：低溫區(qū)、測高溫區(qū)、試區(qū)三部分，測試產品置于測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊, 測試產品為靜態(tài)式。
進口采用觸控式圖控操作界面，操作筒易。
沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。
系統(tǒng)可作自動循環(huán)衙擎或手動選擇性沖擊并可設定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
高溫沖擊或低溫沖擊時，Z大時間可達999H，Z大循環(huán)周期可達9999次。
冷卻采復疊式二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。
可以試驗沖擊常溫執(zhí)行滿足標準及試驗方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗;GJB360.7溫度沖擊試驗;GB/2423.22 溫度沖擊試驗。