冷熱三箱沖擊試驗箱用于自動化零部件、電子電器零組件、通訊組件、金屬、汽車配件、化學材料、航天、兵工業(yè)、塑膠等行業(yè)、國防工業(yè)、BGA、電子芯片IC、PCB基扳、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于冷熱驟變產(chǎn)出的化學變化或物理傷害。

冷熱三箱沖擊試驗箱愛佩公司常做的標準型號和內(nèi)尺寸（也可按客戶要求生產(chǎn)）（單位:mm）：

型號 AP-CJ-27L 內(nèi)形尺寸:W×H×D 300×300×300 ；型號AP-CJ-50L 內(nèi)形尺寸:W×H×D 360×350×400；型號AP-CJ-80L內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×400×400；型號AP-CJ-108L內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×400×450；型號AP-CJ-150L內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×500×500；型號AP-CJ-250L內(nèi)形尺寸:W×H×D 700×600×600；型號AP-CJ-408L內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×650×750；型號AP-CJ-560L內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×700×800；(以上型號建議根據(jù)自家產(chǎn)品的大小選擇合作的尺寸再配上合適的溫度范圍即可,每一款尺寸都可以在三個溫度范圍中選擇其中一段,愛佩標準的溫度范圍有:A :-40~+150℃;B :-55~+150℃;C :-65~+150℃).

溫度驟變時間:從冷溫區(qū)到熱溫區(qū)或從熱溫區(qū)到冷溫區(qū)≤10秒鐘;

溫度恢復時間  ≤5分鐘（與溫度恢復條件有關(guān)，既冷卻水溫、恒溫時間、暴露溫差、樣品負載有關(guān)）

控制系統(tǒng)的主要控制器采用日本LED數(shù)顯（P、I、D +S、S、R.）微電腦集成全觸摸控制器,精度范圍:設(shè)定精度溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.01℃。

制冷系統(tǒng)全部采用復疊式二元工業(yè)制冷，德國比澤爾半密式壓縮機配美國杜邦的環(huán)保冷媒（HFC-507/HFC-23）,長久冷熱驟變試驗*沒有問題.

所滿足的標準有以下:

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導則;GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分高溫試驗;GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗;GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗;GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗方法;GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗;IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估;QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則 汽車行業(yè)標標準等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標準。