高低溫設(shè)備試驗(yàn)箱主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用

高低溫設(shè)備試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)：

1 、高低溫溫度范圍：A：0℃、B：-20℃、C：-40℃、D：-60℃、F:-70℃～+150℃

2 、溫度波動度：±0.5℃

3 、溫度均勻度：≤2℃

4 、升降溫速率：0.7～1℃/min

5 、容積及對應(yīng)的寬高深可選擇：80L:寬40x高50x深40cm；150L:150L:寬50x高60x深50cm；225L:寬50x高75x深60cm；408L:寬60x高85x深80cm；800L:寬100x高100x深80cm;1000L:寬100x高100x深100cm。

1.GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2.GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3.GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4.GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

5.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

6.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

7.GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則